安柏AT682絕緣電阻測(cè)試儀的穩(wěn)定性主要體現(xiàn)在測(cè)量精度和抗干擾能力上。該儀器采用數(shù)字技術(shù)，具有高精度測(cè)量模塊，可實(shí)現(xiàn)絕緣電阻的穩(wěn)定測(cè)試，其測(cè)量范圍覆蓋兆歐級(jí)到千兆歐級(jí)，分辨率和穩(wěn)定性均滿足嚴(yán)苛的測(cè)試要求。

穩(wěn)定性表現(xiàn)

1.抗干擾設(shè)計(jì):具備過(guò)流保護(hù)、短路保護(hù)等安全功能，可防止誤操作或環(huán)境干擾導(dǎo)致的數(shù)據(jù)異常

2.校準(zhǔn)周期:通過(guò)周期檢定或校準(zhǔn)確保測(cè)量精度，符合計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)要求。

3.環(huán)境適應(yīng)性:未明確提及對(duì)傾斜平面的測(cè)試要求，但穩(wěn)定性通常通過(guò)設(shè)備放置在傾斜平面(如10°斜面)時(shí)保持不翻倒來(lái)驗(yàn)證。

影響因素

若出現(xiàn)數(shù)據(jù)波動(dòng)，可能由接觸不良、環(huán)境干擾或內(nèi)部芯片(如模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片)性能不穩(wěn)定導(dǎo)致。